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GIS特高頻局部放電測試方法
日期：2025-12-04 01:47
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摘要：
GIS特高頻局部放電測試方法
特高頻檢測原理
在GIS中發(fā)生局部放電時會產(chǎn)生電磁波，而GIS的金屬外殼會將這種電磁波屏蔽掉一大部分，不過仍有小部分會通過金屬殼體的絕緣盆或者觀察窗傳播出去頻率高達數(shù)GHz，而且上升時間內(nèi)有幾個納秒?？梢詫⑻筋^設(shè)置于工作狀態(tài)中的GIS的絕緣盆，對局部放電活動進行檢測。
特高頻檢測部位
GIS每一個氣室的絕緣盆或觀察窗處。
GIS局放檢測判斷
a) 首先根據(jù)相位圖譜特征判斷測量信號是否具備典型放電圖譜特征或與背景或其他測試位置有明顯不同，若具備...
GIS特高頻局部放電測試方法
特高頻檢測原理
在GIS中發(fā)生局部放電時會產(chǎn)生電磁波，而GIS的金屬外殼會將這種電磁波屏蔽掉一大部分，不過仍有小部分會通過金屬殼體的絕緣盆或者觀察窗傳播出去頻率高達數(shù)GHz，而且上升時間內(nèi)有幾個納秒?？梢詫⑻筋^設(shè)置于工作狀態(tài)中的GIS的絕緣盆，對局部放電活動進行檢測。
特高頻檢測部位
GIS每一個氣室的絕緣盆或觀察窗處。
GIS局放檢測判斷
a) 首先根據(jù)相位圖譜特征判斷測量信號是否具備典型放電圖譜特征或與背景或其他測試位置有明顯不同，若具備，繼續(xù)如下分析和處理：排除外界環(huán)境干擾，將傳感器放置于絕緣盆上檢測信號與在空氣中檢測信號進行比較若一致并且信號較小，則基本可判斷為外部干擾。若不一樣或變大，則需進一步檢測判斷。
b) 檢測相鄰間隔的信號，根據(jù)各檢測間隔的幅值大?。葱盘査p特性）初步定位局放部位。
c) 必要時可使用工具把傳感器綁置于絕緣盆處進行長時間檢測，時間不少于15分鐘，進一步分析峰值圖形、和三維檢測圖形，綜合判斷放電類型。
儀器本身具備放電分析參考，可根據(jù)放電特征分析放電類型。在條件具備時，還應(yīng)用超聲波局放儀進行的定位。
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